zeta電位及粒度分析儀

zeta電位及粒度分析儀簡介：

     在原有的經典型號380ZLS基礎上升級配套而來，采用動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。

zeta電位及粒度分析儀技術優勢

1、高靈敏度PMT檢測器；

2、可搭配不同功率光源；

3、準確度高，接近樣品真實值；

4、可測試水相及有機相樣品的粒度及Zeta電位；

5、快速檢測，可以追溯歷史數據；

6、結果數據以多種形式和格式呈現；

7、符合USP,CP等個多藥典要求；

8、無需校準；

9、復合型算法：

（1）高斯（Gaussion）正態粒度分布與*的Nicomp多峰分布算法自由切換

（2）頻率（Frequency）Zeta電位分析法與*的相位（Phase）分析法自由切換

10、模塊化設計便于維護和升級；

（1）可自動稀釋模塊（選配）；

（2）自動進樣系統（選配）；

（3）搭配多角度檢測器（選配）；

優勢：模塊化設計

      Nicomp Z3000納米激光粒度儀是全*在應用動態光散射技術上的基礎上加入多模塊方法的先進粒度儀。隨著模塊的升級和增加，Nicomp 的功能體系越來越強大，可以用于各種復雜體系的檢測分析。

選配 21CFR Part 11法規軟件——符合cGMP要求

      Nicomp系列儀器全系配備了符合美國聯邦法規21章第11款（21 CFR PART11）要求的軟件。具有數據自動備份，審計追蹤，權限分級，電子簽名，可連接Lims系統等多項功能。

      中國食品藥品監督管理局（NMPA）有政策趨勢將對醫藥研發企業實施規范的GLP 管理。使用符合21 CFR PART 11法規的軟件更能符合現在GLP/GMP的要求。